新推出的53100A相位噪聲分析儀是專門(mén)為工程師和研究人員開(kāi)發(fā)的。他們的工作依賴于對(duì)來(lái)自5G網(wǎng)絡(luò)、數(shù)據(jù)中心、商用和軍用飛機(jī)、航天器、通信衛(wèi)星以及測(cè)量和測(cè)試應(yīng)用的頻率信號(hào)的精確測(cè)量。這種新型測(cè)試儀可以檢測(cè)高達(dá)200兆赫的射頻信號(hào)，快速捕獲頻率信號(hào)，并快速準(zhǔn)確地表征相位噪聲、頻率抖動(dòng)、艾倫偏差(ADEV)和時(shí)間偏差。只需要一個(gè)分析儀和幾分鐘來(lái)表征感興趣頻率的所有特征。

53100A型相位噪聲分析儀支持多種配置，可以用一個(gè)參考信號(hào)同時(shí)檢測(cè)三個(gè)不同的待測(cè)信號(hào)，提高了測(cè)試能力和穩(wěn)定性。該設(shè)備體積小，只有344 x  215 x  91毫米(13.5 x  8.5 x  3.6英寸)。它可以很容易地集成到各種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中，并具有足夠強(qiáng)的測(cè)量能力，能夠勝任實(shí)驗(yàn)室級(jí)的測(cè)量和測(cè)試。53100A分析儀的接口向后兼容性與微芯片的51xxA系列測(cè)試套件共享相同的命令和數(shù)據(jù)流，從而大大減少了重新設(shè)計(jì)現(xiàn)有ATE基礎(chǔ)設(shè)施的需要。

53100A相位噪聲分析儀使用非常靈活，可以通過(guò)前面板訪問(wèn)參考設(shè)備，頻率標(biāo)準(zhǔn)可以和被測(cè)設(shè)備不同，這樣不同的振蕩器可以用同一個(gè)參考來(lái)表征。可作為參考的設(shè)備有銣原子頻標(biāo)(如微芯片的8040C-LN)或應(yīng)時(shí)振蕩器(如微芯片的1000C恒溫控晶體振蕩器(OCXO))，也支持其他廠家的精密振蕩器產(chǎn)品。